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確實是用一個I/O與相機上的MCU進行加密通訊,其實相機上的MCU也是ATMEL的,只是改了MARK.        有興趣的話你可以找找那個通訊用的I/O口,測量波形,看看能否找到一些突破.    加一句,ATmega406最初也是SONY找ATMEL定制的.

應該是ATMEL的8位MCU,SONY找ATMEL定制的,其實SONY很多機型的筆記本所用的電池管理芯片都是找ATMEL定制,AVR內核.

在國內知名大型視聽產品電子公司驗證一年多,經過殘酷的高低溫實驗、MTBF實驗,方按成熟.配套開發有專業、智能的測試工具,可以測試充電線路、保護IC的狀態和參數,確保每一塊充電板功能正常.聯系方式:kks-100@163.com

上傳一家電池廠的數據:3．充放電極限電壓電流環境條件:溫度,20±5℃;濕度,45-85R%性能描述:          a．最大可支持3.0C5電流充放電;          b．充電極限電壓:1.7V,放電極限電壓:0.8V;          c．推薦充電電流:0.1C5~0.5C5,充電控制方法為:0.1C5充電16小時0.2C5充電7小時0.3C5充電4.5小時,-ΔV=10mV0.4C5充電3.25小時,-ΔV=10mV0.5C5充電2.4小時,-ΔV=10mV推薦放電電壓:1.0V.▼0.5C5充電(第9工步)0.5C5放電(第11工步)曲線圖[圖片]500){this.resized=true;this.width=500;this.alt='這是一張縮略圖，點擊可放大。\n按住CTRL，滾動鼠標滾輪可自由縮放';this.style.cursor='hand'}"onclick="if(!this.resized){returntrue;}else{window.open('http://u.dianyuan.com/bbs/u/37/1138095727.jpg');}"onmousewheel="returnimgzoom(this);">

如果你一定要用8位的ADC,單節充電只能用電壓0增量方式檢測,而且充電率不小于0.4C.如果用電壓負增量判斷,極可能過充.關于電池電壓的采樣,我是在關PWM并放電一段時間再后測量的.充電時,電池阻抗,線路阻抗上會有壓降,你測得的1.6V估計是在充電時測的,那并不是電池開路時的電壓.

我手頭有一家電池廠鎳氫電芯的資料,提供的極限充電電壓是1.7V,注意,是極限電壓!    用不同的充電率,電池電壓的出現負增量時的電壓值是不一樣的.    我用0.4C充,0斜率點的電壓可以達到1.505V.    你選的IC精度太低了!

當然,電池的狀態檢測用A/D,我用三星的MCU做過6串的Ni-MH,但不是單獨檢測,現在想做一個每節電池可以單獨檢測,充滿后從整體回路切除,其他電池繼續充電的線路.用MOS管作開關,除已充滿的電池可以做到很高的效率,存在的危險是當電池的切入、切出MOS同時道通時,電池立即短路.MCU軟件的可靠性在此是不值得信任的,一個可靠的硬件互鎖電路用于對切入、切出MOS的控制應該是一個比較和的解決方法,硬件互鎖電路最好還能在兩個MOS開與關之間加一個延時.不知道眾位是否用過類似的硬件互鎖電路?門電路或比較器實現的?記得以前見過用4個三極管做的橋式電路,用于驅動馬達及換向,三極管的驅動電路就用到硬件互鎖機制.

可以提供一個用比較器實現的參考電路嗎?門電路和比較器相比哪種更好呢?請大俠指教,謝謝!