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Q1. 何謂“老化”？A1. 老化是指EIA Class II電容器隨著時間推移電容量會下降。這對于用作電介質材料的所有強電介質來說是不可避免的自然現象。老化的過程是可逆的，電介質的晶體結構是隨溫度和時間的變化而發生變化。老化通常以指數形式的容値衰減率來描述。用對數來表示老化的變化率，因此容値的減小在前10個小時時是非常大的。[圖片]圖1 :電容老化特性注：介電損耗因子（正切）也會老化，下降速率是電容値的幾倍。同時，EIA Class III和IV也具有老化特性。業界的老化定義可參照EIA-521和IEC-384-9中關于老化的“官方”定義。Q2. Class I電容器和Class II電容器之間有什么不同？A2. 溫度補償用電容（EIA I類）和高介電常數電容（EIA II類）電容的差異。溫度補償相對介電常數為10?100，高介電常數的類型是使用具有1000至10000的相對介電常數的材料，材料系是不同的。Class I 電容器1 (C0G、CH)的溫度特性是穩定的，它基本不隨溫度，電壓的變化，時間的推移而發生變化，CH和C0G電容的溫度依賴性小，它的容值變化率是±30PPM/℃。因此，它是適用于要求溫度和電壓穩定的電路應用。Class II 電容器2 (X5R，X7R、Y5V)的特性對于溫度、電圧、時間的變化是比較大的，與Ⅰ類相比，電容的溫度變化較大但它可以獲得高容值的電容，用于整流、傍路等用途。 此外，采用鈦酸鋇為介質主材制造的電容器（Class II、III和IV）為強電介質體，因此容易“老化”，在未加熱或充未電狀態下放置,隨著時間的推移電容器的容値會下降。Class I電容器不是強電介質體，因此不會老化。Q3. 為什么鈦酸鋇電容器會老化以及如何老化？在居里點以下溫度，無負載放置。隨著時間的推移內部分子結構會變化，并由此產生電偶極子的有序排列。造成分子的電荷保持力減弱的結構。電容值將變小3。Q4. 什么是抗老化？A4. 抗老化是還原老化現象的熱處理。簡單地說，它是恢復重新老化的過程，但并不阻止元件的老化。將電容器加熱到高于其居里溫度會使晶體結構恢復到其最佳的無序排列，從而實現最大電容量。TDK建議采用150℃/1小時加熱進行抗老化。注：為了加熱后的容値測量、記錄好最后的加熱時間TOLH(Time Of Last Heat)是非常重要的。Q5. “老化”是否只是TDK的特有現象？A5. 答案是否定的。MLCC的所有制造商生產的Class II、III和IV陶瓷電容都會有“老化”現象。由于老化視結構而定，因此老化速率因制造商而異。Q6. 電容器制造商如何針對老化進行補償？A6. 電容器的測試基準已在IEC-384-9被定義。它被定義為:在 最終熱處理后1000小時的經時性變化后的電容值4。我們在測試工序中考慮到老化速度的影響，使1000小時后的電容值在允許的公差范圍內來進行選別。[圖片]圖3 :Class II材料的排序限制示例，K允許偏差注：隨著時間的推移,由于老化使電容值降低。最后加熱后不到1000小時的有可能超過容量公差的上限，超過1000小時的有可能低于容量公差的下限。Q7. 電容器用戶應如何針對老化進行補償？A7. 電容器用戶應期望Class II、III和IV電容器處在電容允許偏差范圍內, 從最后加熱開始需要經過 TOLH中的6周（1000小時）的放置，在焊接，粘接劑固化，溫度上升的其他工序直后，是電容去老化的過程，有可能電容值不落在容差范圍內。您可能需要考慮到電容器的老化因素，拓寬在電路測試中電容的容差范圍設置。