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我試了，會觸電，原理很簡單，就如下圖[圖片] 

我們一般以1K/0.3V測試，但有些磁芯規(guī)格上Al值不是這個條件下測試的，故測試值與計算值不一致，所以我不清楚電感值以那個為準(zhǔn)，是廠商AL值的測試方法嗎？

我用pspice仿真也是，奇怪

那樣的話，應(yīng)該可以理解為：如果電壓掉落仍然滿足系統(tǒng)的指標(biāo)，就算合格，根本不需要關(guān)注什么恢復(fù)時間，對吧？如12V的范圍+-3%，可以掉落到11.64？

大致如下：[圖片] 

呼喚高手……

輸出應(yīng)該是一線性電壓，跟隨實時電壓的變化，光耦工作在線性狀態(tài)。

是在輸出分壓電阻的上臂并一個bav99與阻容的串聯(lián)。請教具體的理論分析？

把仿真原理圖也發(fā)上來吧？是用multisim的吧

多謝，你講的那部分分析可能我看到過，不夠詳細(xì)，我還是不能理解?？磥砦业贸闀r間仿真一下啦。