微軟公司宣布不再支持你正在使用的 IE瀏覽器，這會嚴重影響瀏覽網(wǎng)頁，請使用微軟最新的Edge瀏覽器
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引言：
測試是IC設計的重要環(huán)節(jié)，精確的測試結果，快速的Debug方法，直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準備了一系列芯片測試的新玩法，帶你玩轉(zhuǎn)IC測試。
Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奮斗在設計一線，不斷的設計出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來，高強度的測試任務，對于測試工程師及IC設計師來講，都是最為心情跌宕起伏的時刻：仿真很“豐滿”，測試很“骨感”。
嘉賓介紹：
*陳宇睿 NI中國自動化測試產(chǎn)品市場經(jīng)理
（另有更多嘉賓將陸續(xù)公布）
1.NI半導體解決方案介紹:
a)從研發(fā)驗證到量產(chǎn)，覆蓋整個半導體開發(fā)流程的測試驗證
b)靈活的NI PXI平臺，可以快速實現(xiàn)實驗室的自動化測試及特性分析
c)基于PXI平臺的STS系統(tǒng)，可以幫助產(chǎn)線測試降低成本，提升靈活性，復用前期研發(fā)及特性分析的IP，加速產(chǎn)品上市。
2.實驗室測試自動化平臺案例分析：
a)基于NI PXI平臺，全球范圍內(nèi)組建了Validation中心，并且組織專業(yè)團隊進行二次開發(fā)，從而使用同一套系統(tǒng)快速實現(xiàn)芯片的參數(shù)測試，功能測試以及系統(tǒng)級測試。
3.基于NI PXI搭建混合信號測試系統(tǒng)（暫定）：
a)PXI平臺上具有2000+模塊化儀器，其多樣性可以實現(xiàn)復雜的混合型號測試。
4.NI RFIC測試解決方案（暫定）：
a)基于PXI平臺和矢量信號收發(fā)儀VST，您可以輕松應對當前復雜且技術更新很快的RFIC測試。
-芯片設計工程師及部門主管
-芯片測試工程師及部門主管
-Verification 及 Qualification 部門工程師
-其他IC業(yè)內(nèi)人士
歡迎您的到來！
活動主辦方：美國國家儀器
美國國家儀器，世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發(fā)到量產(chǎn)的全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。在縮短產(chǎn)品問世時間的同時有效降低開發(fā)成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇，在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經(jīng)驗和專業(yè)知識。
特別鳴謝協(xié)辦單位：
活動支持：
【時間】：2016年8月31日，13:30--17:00
【地點】：蘇州洲際酒店2樓會議室1（吳中區(qū) 金雞湖畔旺墩路288號 ，近右岸街）
【費用】：免費（提供茶歇）
另外我們在以下3地也會有同樣的沙龍。
深圳站【時間】：2016年8月23日，13:30--17:00
【地點】：深圳市南山區(qū)深南路9028號-2，深圳益田威斯汀酒店四樓會議室7&8
【費用】：免費（提供茶歇）
【報名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
無錫站【時間】：2016年8月30日，13:30--17:00
【地點】：無錫濱湖區(qū)高浪路19號希爾頓逸林酒店三樓靈鴻廳（近錫士路），（注：8月30日活動茶歇在三樓廊廳，茶歇時間為15:00--15:30）
【費用】：免費（提供茶歇）
【報名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzI=
杭州站【時間】：2016年9月8日
【地點】：待定
【費用】：免費（提供茶歇）
注：活動限半導體行業(yè)相關工作人員參加（限額80人），因主辦方將進行人員篩選，請認真填寫報名信息，信息填寫不完整及行業(yè)屬性不相關者，不在邀請范圍內(nèi)，請悉知。入場請出示通知短信并攜帶名片。
引言：
測試是IC設計的重要環(huán)節(jié)，精確的測試結果，快速的Debug方法，直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準備了一系列芯片測試的新玩法，帶你玩轉(zhuǎn)IC測試。
Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奮斗在設計一線，不斷的設計出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來，高強度的測試任務，對于測試工程師及IC設計師來講，都是最為心情跌宕起伏的時刻：仿真很“豐滿”，測試很“骨感”。
嘉賓介紹：
*陳宇睿 NI中國自動化測試產(chǎn)品市場經(jīng)理
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1.NI半導體解決方案介紹:
a)從研發(fā)驗證到量產(chǎn)，覆蓋整個半導體開發(fā)流程的測試驗證
b)靈活的NI PXI平臺，可以快速實現(xiàn)實驗室的自動化測試及特性分析
c)基于PXI平臺的STS系統(tǒng)，可以幫助產(chǎn)線測試降低成本，提升靈活性，復用前期研發(fā)及特性分析的IP，加速產(chǎn)品上市。
2.實驗室測試自動化平臺案例分析：
a)基于NI PXI平臺，全球范圍內(nèi)組建了Validation中心，并且組織專業(yè)團隊進行二次開發(fā)，從而使用同一套系統(tǒng)快速實現(xiàn)芯片的參數(shù)測試，功能測試以及系統(tǒng)級測試。
3.基于NI PXI搭建混合信號測試系統(tǒng)（暫定）：
a)PXI平臺上具有2000+模塊化儀器，其多樣性可以實現(xiàn)復雜的混合型號測試。
4.NI RFIC測試解決方案（暫定）：
a)基于PXI平臺和矢量信號收發(fā)儀VST，您可以輕松應對當前復雜且技術更新很快的RFIC測試。
-芯片設計工程師及部門主管
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美國國家儀器，世界上最大領先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發(fā)到量產(chǎn)的全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設計領域的工程師與科學家解決了從設計、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。在縮短產(chǎn)品問世時間的同時有效降低開發(fā)成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應用選擇，在RF芯片設計和測試方面具有豐富的經(jīng)驗和專業(yè)知識。
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活動支持：
【時間】：2016年8月31日，13:30--17:00
【地點】：蘇州洲際酒店2樓會議室1（吳中區(qū) 金雞湖畔旺墩路288號 ，近右岸街）
【費用】：免費（提供茶歇）
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深圳站【時間】：2016年8月23日，13:30--17:00
【地點】：深圳市南山區(qū)深南路9028號-2，深圳益田威斯汀酒店四樓會議室7&8
【費用】：免費（提供茶歇）
【報名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzQ=
無錫站【時間】：2016年8月30日，13:30--17:00
【地點】：無錫濱湖區(qū)高浪路19號希爾頓逸林酒店三樓靈鴻廳（近錫士路），（注：8月30日活動茶歇在三樓廊廳，茶歇時間為15:00--15:30）
【費用】：免費（提供茶歇）
【報名】：http://h5.welian.com/event/i/MTYwNzI=
杭州站【時間】：2016年9月8日
【地點】：待定
【費用】：免費（提供茶歇）
注：活動限半導體行業(yè)相關工作人員參加（限額80人），因主辦方將進行人員篩選，請認真填寫報名信息，信息填寫不完整及行業(yè)屬性不相關者，不在邀請范圍內(nèi)，請悉知。入場請出示通知短信并攜帶名片。
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