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聯(lián)系人 賀生 13684977366
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司坦森集成電路是一家臺(tái)系、專業(yè)場(chǎng)效應(yīng)MOSFET設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)生產(chǎn)商
全系列的SOP-8,SOT-23,TO-252/251等封裝MOSFET.
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STC4606,STN4828(專用inverter)
STP6635,STN454,STN442D,STN413,ST16N10,ST13P10,ST36N10
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司坦森集成電路
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Tel:13684977366 賀 生
QQ:595639271
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ST1413 SI1303 SI1307 APM1401STN423 APM1402
ST1443 SI1304 SI1302
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ST1423A SI1410DH AO7408 FDG329N
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STP1013 SI1013
STN1012 SI1012
STP4953 替代 SI4953 AO4803 FDS8958 APM4953
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STP9437 AO4403
STP4435 SI4431 SI4435 SI4425 AO4411 AO4415 FDS8435 FDS4435 FDS6675
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STN4412 SI4412 S4416 SI9410 AO4412 AO4414
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STN4546
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STN4436 STN4850
STN4440 AO4440
STP4953 SI4953 AO4803 FDS8958 APM4953
STP4803
STN4920 SI4920 AO4812
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STN9926
STN6303 SI912 AO7800 FDC6335 FDC6303
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STP6308 SI1913 AO7801 FDC6308
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臺(tái)灣大電流MOS管 聯(lián)系人 賀生 13684977366
溝槽式場(chǎng)效電晶體 Trench_MOSFET ( TO-251/TO-252)
臺(tái)灣大電流MOS管 聯(lián)系人 賀生 13684977366
溝槽式場(chǎng)效電晶體 Trench_MOSFET ( TO-251/TO-252)
首先,來(lái)做一個(gè)實(shí)驗(yàn),把一個(gè)MOSFET的G懸空,然后在DS上加電壓,那么會(huì)出現(xiàn)什么情況呢?很多工程師都知道,MOS會(huì)導(dǎo)通甚至擊穿。這是為什么呢?因?yàn)槲腋緵](méi)有加驅(qū)動(dòng)電壓,MOS怎么會(huì)導(dǎo)通?用下面的圖,來(lái)做個(gè)仿真:
去探測(cè)G極的電壓,發(fā)現(xiàn)電壓波形如下:
G極的電壓居然有4V多,難怪MOSFET會(huì)導(dǎo)通,這是因?yàn)镸OSFET的寄生參數(shù)在搗鬼。
代理AOS美國(guó)萬(wàn)代,MOS場(chǎng)效應(yīng)管,原裝正品,低價(jià)實(shí)惠!
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深圳市金萬(wàn)順電子有限公司
電話:0755-83214597
地址:福田區(qū)中航路國(guó)利大廈A座2705
各位兄弟們大家好我是來(lái)自萬(wàn)國(guó)高科電子有限公司的鄭萍,我公司主要是做一些 中 高 低壓的mos管 暢銷應(yīng)用管及各參數(shù)的二極管 如肖特 基快恢復(fù) tvs 主要代理的牌子有一下幾個(gè)品牌 AOS美國(guó)萬(wàn)代 仙童 st ir 強(qiáng)茂 等品有需要的各位兄弟可聯(lián)系我,以下是我的聯(lián)系方式AOS代理全系列場(chǎng)效應(yīng)管,MOSFET:
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MOSFET有兩大類型:N溝道和P溝道。在功率系統(tǒng)中,MOSFET可被看成電氣開(kāi)關(guān)。當(dāng)在N溝道MOSFET的柵極和源極間加上正電壓時(shí),其開(kāi)關(guān)導(dǎo)通。導(dǎo)通時(shí),電流可經(jīng)開(kāi)關(guān)從漏極流向源極。漏極和源極之間存在一個(gè)內(nèi)阻,稱為導(dǎo)通電阻RDS(ON)。必須清楚MOSFET的柵極是個(gè)高阻抗端,因此,總是要在柵極加上一個(gè)電壓。如果柵極為懸空,器件將不能按設(shè)計(jì)意圖工作,并可能在不恰當(dāng)?shù)臅r(shí)刻導(dǎo)通或關(guān)閉,導(dǎo)致系統(tǒng)產(chǎn)生潛在的功率損耗。當(dāng)源極和柵極間的電壓為零時(shí),開(kāi)關(guān)關(guān)閉,而電流停止通過(guò)器件。雖然這時(shí)器件已經(jīng)關(guān)閉,但仍然有微小電流存在,這稱之為漏電流,即IDSS。
第一步:選用N溝道還是P溝道
為設(shè)計(jì)選擇正確器件的第一步是決定采用N溝道還是P溝道MOSFET。在典型的功率應(yīng)用中,當(dāng)一個(gè)MOSFET接地,而負(fù)載連接到干線電壓上時(shí),該MOSFET就構(gòu)成了低壓側(cè)開(kāi)關(guān)。在低壓側(cè)開(kāi)關(guān)中,應(yīng)采用N溝道MOSFET,這是出于對(duì)關(guān)閉或?qū)ㄆ骷桦妷旱目紤]。當(dāng)MOSFET連接到總線及負(fù)載接地時(shí),就要用高壓側(cè)開(kāi)關(guān)。通常會(huì)在這個(gè)拓?fù)渲胁捎?span>P溝道MOSFET,這也是出于對(duì)電壓驅(qū)動(dòng)的考慮。
要選擇適合應(yīng)用的器件,必須確定驅(qū)動(dòng)器件所需的電壓,以及在設(shè)計(jì)中最簡(jiǎn)易執(zhí)行的方法。下一步是確定所需的額定電壓,或者器件所能承受的最大電壓。額定電壓越大,器件的成本就越高。根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),額定電壓應(yīng)當(dāng)大于干線電壓或總線電壓。這樣才能提供足夠的保護(hù),使MOSFET不會(huì)失效。就選擇MOSFET而言,必須確定漏極至源極間可能承受的最大電壓,即最大VDS。知道MOSFET能承受的最大電壓會(huì)隨溫度而變化這點(diǎn)十分重要。設(shè)計(jì)人員必須在整個(gè)工作溫度范圍內(nèi)測(cè)試電壓的變化范圍。額定電壓必須有足夠的余量覆蓋這個(gè)變化范圍,確保電路不會(huì)失效。設(shè)計(jì)工程師需要考慮的其他安全因素包括由開(kāi)關(guān)電子設(shè)備(如電機(jī)或變壓器)誘發(fā)的電壓瞬變。不同應(yīng)用的額定電壓也有所不同;通常,便攜式設(shè)備為20V、FPGA電源為20~30V、85~220VAC應(yīng)用為450~600V。
詳情請(qǐng)咨詢 賀生 13684977366
第二步:確定額定電流
第二步是選擇MOSFET的額定電流。視電路結(jié)構(gòu)而定,該額定電流應(yīng)是負(fù)載在所有情況下能夠承受的最大電流。與電壓的情況相似,設(shè)計(jì)人員必須確保所選的MOSFET能承受這個(gè)額定電流,即使在系統(tǒng)產(chǎn)生尖峰電流時(shí)。兩個(gè)考慮的電流情況是連續(xù)模式和脈沖尖峰。在連續(xù)導(dǎo)通模式下,MOSFET處于穩(wěn)態(tài),此時(shí)電流連續(xù)通過(guò)器件。脈沖尖峰是指有大量電涌(或尖峰電流)流過(guò)器件。一旦確定了這些條件下的最大電流,只需直接選擇能承受這個(gè)最大電流的器件便可。
選好額定電流后,還必須計(jì)算導(dǎo)通損耗。在實(shí)際情況下,MOSFET并不是理想的器件,因?yàn)樵趯?dǎo)電過(guò)程中會(huì)有電能損耗,這稱之為導(dǎo)通損耗。MOSFET在“導(dǎo)通”時(shí)就像一個(gè)可變電阻,由器件的RDS(ON)所確定,并隨溫度而顯著變化。器件的功率耗損可由Iload2×RDS(ON)計(jì)算,由于導(dǎo)通電阻隨溫度變化,因此功率耗損也會(huì)隨之按比例變化。對(duì)MOSFET施加的電壓VGS越高,RDS(ON)就會(huì)越小;反之RDS(ON)就會(huì)越高。對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō),這就是取決于系統(tǒng)電壓而需要折中權(quán)衡的地方。對(duì)便攜式設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),采用較低的電壓比較容易(較為普遍),而對(duì)于工業(yè)設(shè)計(jì),可采用較高的電壓。注意RDS(ON)電阻會(huì)隨著電流輕微上升。關(guān)于RDS(ON)電阻的各種電氣參數(shù)變化可在制造商提供的技術(shù)資料表中查到。
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第四步:決定開(kāi)關(guān)性能
選擇MOSFET的最后一步是決定MOSFET的開(kāi)關(guān)性能。影響開(kāi)關(guān)性能的參數(shù)有很多,但最重要的是柵極/漏極、柵極/ 源極及漏極/源極電容。這些電容會(huì)在器件中產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗,因?yàn)樵诿看伍_(kāi)關(guān)時(shí)都要對(duì)它們充電。MOSFET的開(kāi)關(guān)速度因此被降低,器件效率也下降。為計(jì)算開(kāi)關(guān)過(guò)程中器件的總損耗,設(shè)計(jì)人員必須計(jì)算開(kāi)通過(guò)程中的損耗(Eon)和關(guān)閉過(guò)程中的損耗(Eoff)。MOSFET開(kāi)關(guān)的總功率可用如下方程表達(dá):Psw=(Eon+Eoff)×開(kāi)關(guān)頻率。而柵極電荷(Qgd)對(duì)開(kāi)關(guān)性能的影響最大。
基于開(kāi)關(guān)性能的重要性,新的技術(shù)正在不斷開(kāi)發(fā)以解決這個(gè)開(kāi)關(guān)問(wèn)題。芯片尺寸的增加會(huì)加大柵極電荷;而這會(huì)使器件尺寸增大。為了減少開(kāi)關(guān)損耗,新的技術(shù)如溝道厚底氧化已經(jīng)應(yīng)運(yùn)而生,旨在減少柵極電荷。舉例說(shuō),SuperFET這種新技術(shù)就可通過(guò)降低RDS(ON)和柵極電荷(Qg),最大限度地減少傳導(dǎo)損耗和提高開(kāi)關(guān)性能。這樣,MOSFET就能應(yīng)對(duì)開(kāi)關(guān)過(guò)程中的高速電壓瞬變(dv/dt)和電流瞬變(di/dt),甚至可在更高的開(kāi)關(guān)頻率下可靠地工作。
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