大家好.
請問,目前有一個5V/1A給手機用的charger,我刻意輸入420Vac讓一次側的大電容炸開,造成hipot不良,
我想問的是,按照這樣的測試手法,造成hipot不良是否可以被安規接受?
還是不論原因,只要hipot不良就無法接受,謝謝!!
buck cap 炸開造成hipot不良
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@juntion
Hi-pot測試是將二次側所有接電(出線)短路,然後一次側L+N短路,施加DC4242V,或AC3750V對一次與二次打,電流設在100mA看Good或NoGood,不是像你那施加420V,那已經不正常了...
忘了跟你說明:
for SPEC:
Hi-Voltage-IN and No Danger
輸入電壓施加到270V 一分鐘, 不可以爆炸損壞
For safety:
雷擊 : 在L-N 施加230V, 然後在正弦0-90-180-270度, 施加2KV正Pulse 或負pulse 系統不可以當, 或損壞或爆炸
靜電: 本體接觸8KV, 隔空 15KV
絕緣 : 以Hi-pot 施加AC 3750V, 由系統依次與二次灌入 2s/100mA, 不可以跳火
接地 : Ground Continuous , 從AC in 的"地" 端, 對鐵外殼施加12V/25A, 阻抗不可超過0.1R...朔膠殼不用做....
你那根本就是超破壞測試....
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@juntion
忘了跟你說明:forSPEC:Hi-Voltage-INandNoDanger輸入電壓施加到270V一分鐘,不可以爆炸損壞Forsafety:雷擊:在L-N施加230V,然後在正弦0-90-180-270度,施加2KV正Pulse或負pulse系統不可以當,或損壞或爆炸靜電: 本體接觸8KV,隔空15KV絕緣:以Hi-pot施加AC3750V,由系統依次與二次灌入2s/100mA,不可以跳火接地:GroundContinuous,從ACin的"地"端,對鐵外殼施加12V/25A,阻抗不可超過0.1R...朔膠殼不用做.... 你那根本就是超破壞測試....
樓上好樣的!
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