隨著半導(dǎo)體材料和制造工藝的不斷升級，小型化、高性能化已成為芯片和器件的重要發(fā)展趨勢，這意味著芯片的信號采集、處理、功耗等性能將得到持續(xù)提升，對于測試裝置的精度、穩(wěn)定性、集成度等重要指標，也提出了更高的標準和要求。接下來，小編將為您分享NGI高性能可編程直流電源在AFE、射頻、激光器芯片中的應(yīng)用和相關(guān)案例。

?AFE芯片

AFE（Analog Front End，模擬前端）芯片是一種用于模擬信號采集和處理的芯片，可對輸入信號進行放大、濾波、采樣、量化等處理，以便后端MCU進行分析。目前，AFE芯片已廣泛應(yīng)用于電動汽車、儲能、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域。

以電動汽車為例，AFE芯片是汽車電池電壓、溫度等參數(shù)采集的重要基礎(chǔ)，因此，其電壓采集精度的準確性、靜態(tài)功耗是芯片設(shè)計、電池、主機廠等產(chǎn)業(yè)鏈上下游的關(guān)注重點。

NGI自主研發(fā)的N23010/N23020系列高精度多通道可編程直流電源可廣泛應(yīng)用于AFE芯片測試。產(chǎn)品具有如下特點：

·高精度：電壓精度最高可達0.1mV，可滿足市面主流規(guī)格AFE芯片電壓測試需求；

·高集成度：3U空間最多可集成24通道，較傳統(tǒng)桌面式電源節(jié)省超50%空間，可滿足封測、流片、生產(chǎn)等大規(guī)模測試場景需求；

·功能豐富：支持nA級電流測量，滿足芯片或拼板漏電流測試需求，為客戶節(jié)省額外高精度數(shù)字萬用表的采購成本。

?射頻芯片

射頻芯片是一種對信號進行放大、濾波、開關(guān)切換等處理的器件，廣泛應(yīng)用于雷達、通信、醫(yī)療、消費類電子等行業(yè)。紋波容易導(dǎo)致芯片輸出混有雜散信號，影響信號處理。因此，供電電源輸出紋波和穩(wěn)定性對射頻芯片性能至關(guān)重要。

以國內(nèi)某TOP3射頻芯片廠家Z為例，前期Z需針對射頻功率芯片進行高溫老化壽命測試（HTOL），單次測試時間高達1000h，樣品須至少231片，前期Z在老化測試過程中，面臨測試過度占用空間、額外增加成本等問題：

·占用空間：為滿足多批次測試需求，須使用8臺傳統(tǒng)桌面式程控電源，占用至少12U空間

·額外增加成本：為測試芯片漏電流，須采購高精度數(shù)字萬用表，也額外占用測試空間。經(jīng)多方技術(shù)比對后，Z選擇了N23010高精度多通道可編程直流電源，解決了空間和成本問題。

·19英寸3U標準空間集成24通道，僅傳統(tǒng)方案的四分之一；

·電源集成μA級漏電流測量功能，可有效降低客戶采購成本；

·電壓紋波≤2mVrms，長時間穩(wěn)定性≤80ppm/1000h，可保證測試供電質(zhì)量的純凈性和穩(wěn)定性。

?半導(dǎo)體激光器芯片

半導(dǎo)體激光器已廣泛應(yīng)用于材料加工、醫(yī)療、光通信、傳感、國防等領(lǐng)域，而激光器芯片是激光器的核心部件，目前恒流老化測試已貫穿于研發(fā)、生產(chǎn)、品控等全流程環(huán)節(jié)。以國內(nèi)某規(guī)模TOP2激光二極管芯片生產(chǎn)企業(yè)L為例，前期老化測試過程中，面臨如下兩方面問題：

·傳統(tǒng)程控電源本身啟動瞬間容易出現(xiàn)電流過沖，開機后需要將電源調(diào)整為恒流模式，否則容易燒壞芯片；

·電源輸出電流最大5A，僅支持20塊老化板，且產(chǎn)品不支持序列模式，導(dǎo)致老化測試效率偏低。

針對前期客戶需求，NGI提供了更安全可靠、更大輸出電流的N39200高精度雙通道可編程電源。首先，N39200支持CC&CV優(yōu)先輸出模式，可保證輸出平穩(wěn)無過沖；同時，電源支持序列模式，支持8A/10A/20A等多種輸出電流，支持更多老化板測試，經(jīng)驗證，單臺8A電源便可支持30塊老化板，對比前期測試方案，效率提升50%。

NGI將持續(xù)深耕場景需求和行業(yè)應(yīng)用，不斷推出業(yè)界領(lǐng)先的產(chǎn)品和測試方案，全方位解決客戶實際應(yīng)用需求，加速推進標準化體系建設(shè)，助力中國半導(dǎo)體行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

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