電磁干擾在電子電路設(shè)計(jì)中一直存在，在單片機(jī)設(shè)計(jì)中，電磁干擾會(huì)造成芯片工作效果的偏差，并且不利于產(chǎn)品的最終上市。對(duì)于單片機(jī)的EMI預(yù)防，要從軟件和硬件兩個(gè)方面來入手。本文就將為大家介紹如何通過軟件處理來抑制單片機(jī)電路當(dāng)中的EMI。

對(duì)干擾措施的軟件處理方法

電磁干擾源所產(chǎn)生的干擾信號(hào)在一些特定的情況下（如在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下）是無法完全消除的，終極將會(huì)進(jìn)進(jìn)CPU處理的核心單元，這樣在一些大規(guī)模集成電路經(jīng)常會(huì)受到干擾，導(dǎo)致不能正常工作或在錯(cuò)誤狀態(tài)下工作。特別是像RAM這種利用雙穩(wěn)態(tài)進(jìn)行存儲(chǔ)的器件，往往會(huì)在強(qiáng)干擾下發(fā)生翻轉(zhuǎn)，使原來存儲(chǔ)的“0”變?yōu)椤?”，或者“1”變?yōu)椤?。

一些串行傳輸?shù)臅r(shí)序及數(shù)據(jù)會(huì)因干擾而發(fā)生改變；更嚴(yán)重的會(huì)破壞一些重要的數(shù)據(jù)參數(shù)等；造成的后果往往是很嚴(yán)重的。在這種情況下軟件設(shè)計(jì)的好壞直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的抗干擾能力的高低。

程序遭遇電磁干擾大致會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：

程序跑飛

這種情況是最常見的干擾結(jié)果，一般來說有一個(gè)好的復(fù)位系統(tǒng)或軟件幀測(cè)系統(tǒng)即可，對(duì)整個(gè)運(yùn)行系統(tǒng)的不會(huì)產(chǎn)生太大的影響。

死循環(huán)或不正常程序代碼運(yùn)行

當(dāng)然這種死循環(huán)和不正常程序代碼并非設(shè)計(jì)職員有意寫進(jìn)的，程序的指令是由字節(jié)組成的，有的是單字節(jié)指令而有的是多字節(jié)指令，當(dāng)干擾產(chǎn)生后使得PC指針發(fā)生變化，從而使原來的程序代碼發(fā)生了重組產(chǎn)生了不可猜測(cè)的可執(zhí)行的程序代碼，那么，這種錯(cuò)誤是致命的，它會(huì)有可能會(huì)往修改重要的數(shù)據(jù)參數(shù)，有可能產(chǎn)生不可猜測(cè)的控制輸出等一系列錯(cuò)誤狀態(tài)。

對(duì)重要參數(shù)儲(chǔ)存的措施

一般情況下可以采用錯(cuò)誤檢測(cè)與糾正來有效地減少或避免這種情況的出現(xiàn)。根據(jù)檢錯(cuò)、糾錯(cuò)的原理，主要思想是在數(shù)據(jù)寫進(jìn)時(shí)，根據(jù)寫進(jìn)的數(shù)據(jù)天生一定位數(shù)的校驗(yàn)碼，與相應(yīng)的數(shù)據(jù)一起保存起來；當(dāng)讀出時(shí)，同時(shí)也將校驗(yàn)碼讀出，進(jìn)行判決。假如出現(xiàn)一位錯(cuò)誤則自動(dòng)糾正，將正確的數(shù)據(jù)送出，并同時(shí)將改正以后的數(shù)據(jù)回寫覆蓋原來錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)；假如出現(xiàn)兩位錯(cuò)誤則產(chǎn)生中斷報(bào)告，通知CPU進(jìn)行異常處理。所有這一切動(dòng)作都是靠軟件設(shè)計(jì)自動(dòng)完成的，具有實(shí)時(shí)性和自動(dòng)完成的特點(diǎn)。通過這樣的設(shè)計(jì)，能大大進(jìn)步系統(tǒng)的抗干擾能力，從而進(jìn)步系統(tǒng)的可靠性。

通過以上的介紹可以看到，當(dāng)單片機(jī)電路遭遇EMI時(shí)很有可能會(huì)出現(xiàn)程序跑飛或者死循環(huán)的情況。因此，時(shí)刻關(guān)注單片機(jī)系統(tǒng)中的EMI就變得非常重要。提早進(jìn)行預(yù)防就能最大程度上降低為產(chǎn)品帶來的損失，希望大家在閱讀過本文之后能對(duì)單片機(jī)系統(tǒng)軟件中EMI的處理方法有進(jìn)一步的了解。